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集成电路 电磁抗扰度测量 第2部分:辐射抗扰度测量 TEM小室和宽带TEM小室法

国家标准 推荐性 现行

国家标准《集成电路 电磁抗扰度测量 第2部分:辐射抗扰度测量 TEM小室和宽带TEM小室法》由TC599(全国集成电路标准化技术委员会)归口,主管部门为工业和信息化部(电子)。

主要起草单位中国电子技术标准化研究院中国汽车工程研究院股份有限公司安徽中认倍佳科技有限公司厦门海诺达科学仪器有限公司深圳市北测标准技术服务有限公司北京智芯微电子科技有限公司天津先进技术研究院工业和信息化部电子第五研究所中国家用电器研究院重庆邮电大学北京星河亿海科技有限公司浙江诺益科技有限公司中国信息通信研究院重庆仕益产品质量检测有限责任公司北京邮电大学东莞职业技术学院

主要起草人付君崔强黄雪梅乔彦彬吴建飞方文啸朱赛亓新李旸梁吉明谢玉章张红升熊伟杰张艳艳周昕郑益民王雪熊璞张金玲麦强康志能陈梅双

基础信息

  • 标准号:GB/T 42968.2-2024

  • 发布日期:2024-10-26

  • 实施日期:2024-10-26

  • 部分代替标准:暂无

  • 全部代替标准:暂无

  • 标准类别:方法

  • 中国标准分类号:L56

  • 国际标准分类号:31电子学31.200集成电路、微电子学

  • 归口单位:全国集成电路标准化技术委员会

  • 执行单位:全国集成电路标准化技术委员会

  • 主管部门:工业和信息化部(电子)

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准:IEC 62132-2:2010。

采标中文名称:集成电路 电磁抗扰度测量 第2部分:辐射抗扰度测量 TEM小室和宽带TEM小室法。

起草单位

中国电子技术标准化研究院

安徽中认倍佳科技有限公司

深圳市北测标准技术服务有限公司

天津先进技术研究院

中国家用电器研究院

北京星河亿海科技有限公司

中国信息通信研究院

北京邮电大学

中国汽车工程研究院股份有限公司

厦门海诺达科学仪器有限公司

北京智芯微电子科技有限公司

工业和信息化部电子第五研究所

重庆邮电大学

浙江诺益科技有限公司

重庆仕益产品质量检测有限责任公司

东莞职业技术学院

起草人

付君

崔强

吴建飞

方文啸

李旸

梁吉明

熊伟杰

张艳艳

王雪

熊璞

康志能

陈梅双

黄雪梅

乔彦彬

朱赛

亓新

谢玉章

张红升

周昕

郑益民

张金玲

麦强

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